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光耦參數測試儀 JFY3010A
點擊次數：369 更新時間：2017-07-13

光耦因素測(ce)評儀(yi)型號規格：JFY3010A

JFY3010A光耦參數測試儀詳細介紹
※概述:
JFY3010A光耦參數測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、操作簡單、使用 方便,適用電子產品 或電子元件供應商來料檢測。
※             測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦
※             測量參數:

規格技術指標表:

數據項

各種測試參數表

測(ce)試方法狀(zhuang)態設計(ji)

插入單(dan)向(xiang)壓降(VF)

0-2.000V

0-400MA

耐沖擊(BVCEO)

0-1200V

0-2.000MA

傳送數據比(bi)(CTR)

0-3000

VCE:0-20V IC:0-2.000A

飽(bao)和點壓(ya)降(Vsat)

0-2.000V

IF:0-400MA IC:0-2.00A

輸出的漏電流(Iceo)0-1mAVCE=20V
鍵盤輸入正向漏電流(IR)0-1mAVR=4V
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