半導體激光塵埃粒子計數器 型號：CLJ-D

 
該系列儀器的技術指標均滿足 計量總局頒布的JJG547-88檢定規程的要求，整機功能采用美國微電腦控制處理技術及上 的SMT芯片貼片封裝技術和半導體激光傳感器技術及防噪聲氣泵，可直接打印檢測結果。具有功能多、測量精度高、速度快、便于攜帶和操作簡單等特點。儀器一次采樣可同時測得多種粒徑的塵埃(ai)粒(li)子(zi)數，并(bing)能選擇(ze)觀察其(qi)中某(mou)一粒(li)徑粒(li)子(zi)的數目及其(qi)變化(hua)情(qing)況，對(dui)于(yu)研究、檢測和(he)評價(jia)各種潔凈環(huan)境都十分方便(bian)。該系列儀器(qi)性能設(she)計、質量穩定可靠

半導體激光塵埃粒子計數器 型號：CLJ-D

 
　　該(gai)系(xi)列產品(pin)已被廣泛應用于潔凈室檢(jian)測(ce)；過濾器現(xian)場檢(jian)測(ce)、撿漏；可監測(ce)凈工(gong)作(zuo)臺、生物 柜，HVAC系(xi)統，計算機(ji)室、飲料包裝環境，醫療(liao)器械(xie) 環境，醫院潔凈手術室，汽車(che)噴(pen)涂(tu)環境微電子、制藥、生化制品(pin)、食品(pin)衛生、精(jing)細化工(gong)、精(jing)密機(ji)械(xie)和(he)航(hang)空航(hang)天等 和(he)科研部門，是制藥企(qi)業(ye)及其監督管理部門貫徹GMP規(gui)范(fan)及電子 企(qi)業(ye)的儀器。  

半導體激光塵埃粒子計數器 型號：CLJ-D

主要技術參數及性能：

型號：CLJ-D

 
1.光源: 全半導體 激光光源
2.采樣量: 2.83L/min(0.1cfm/min)
3.檢測范圍: 100級～100萬級
4.允許被測試空氣的含塵濃度≯10 萬顆/2.83L
5.粒徑通道: 0.3 0.5 1.0 3.0 5.0 10.0（μm）六檔
6.顯示或打印可將2.83升/分內所含顆粒轉換成1m3所含顆粒數。
7.采樣周期: 1～10 (min)
8.自凈時間: ≤15 (min)
9.校準：可追溯美國 標準技術協會（NIST），我公司已通過 計量建標考核，可追溯至上海計量測量技術研究院可自行進行校準或第三方 計量機構進行校準
10.工作環境: 溫度:10～35℃ 相對溫度: 20～75%RH
11.zui大功耗: 25W
12.測量溫度和濕度的范圍與精度：（選購）
（1） 溫度：0～50℃±1℃
（2） 濕度：0～100%RH±5%
13.采樣點數 2～7點設定
14.每點采樣次數 2～9次設定
15.UCL報表：符合FS-209E、中國GMP的標準
16.工作時間：8 小時
17.電源： AC220V±10% 50±2Hz
18.重量:4.8kg
19.外形尺寸: 260×130×340
20.六檔粒徑塵埃濃度同時檢測，依次數字顯示或自選粒徑顯示。
21.備注: 內(nei)置打印機、自動(dong)判斷凈化等級、等動(dong)力采樣頭、采樣架(jia)

型號：CLJ-D