SX1934D型二合一數字式四探針測試計 
 產品說明 
SX1934D型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，測量擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。換上特制的四探針測試夾具，還可以對金屬導體的低、中值電阻進行測量，適用于半導體、太陽能行業的篩選。 
產品特點 
 　　儀器由主機(ji)、測(ce)試(shi)探頭(tou)(tou)(tou)（可選配測(ce)試(shi)臺）等(deng)(deng)部分(fen)組成，測(ce)試(shi)結(jie)(jie)果由數字表(biao)頭(tou)(tou)(tou)直接顯(xian)示。主機(ji)主要由數控恒流源，高分(fen)辨率ADC、嵌入式單(dan)片機(ji)系(xi)統組成，自動(dong)轉(zhuan)換量程。測(ce)試(shi)探頭(tou)(tou)(tou)高分(fen)子材料和高耐磨碳(tan)化鎢探針制(zhi)成，故定(ding)位準確、游移(yi)率小、壽命長。儀器具(ju)有測(ce)量精度高、靈敏度高、穩定(ding)性好、智能化程度高、測(ce)量簡便、結(jie)(jie)構緊湊、使用方(fang)便等(deng)(deng)特點(自動(dong)調零)。可鑒別(bie)半導體PN類別(bie)。